很抱歉,当前没有启用javascript,网站无法正常访问。请开启以便继续访问。三星4nm逻辑芯片测试生产良率已达40%以上
2025年04月17日 08:53:33
【三星4nm逻辑芯片测试生产良率已达40%以上】《科创板日报》17日讯,三星4nm逻辑芯片的测试生产良率已超过40%。由于该逻辑芯片是三星12层HBM4的关键组件,良率的提升预计将加速三星HBM4的开发。 (ChosunBiz)
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